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一种用于测试集成电路（１０）的设备，包括用于压缩被测试电路（１４）的测试响应的压缩器（２２），该被测试电路（１４）是集成电路（１０）的一部分；和耦合在该被测试电路和压缩器（２２）之间的屏蔽电路（１８），用于屏蔽来自该被测试电路（１４）的一个...
该专利属于NXP股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过NXP股份有限公司授权不得商用。

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