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自热老化制造技术
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文档序号:2632857
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公开了自热老化的方法和装置。在一个实施方案中,半导体器件包括多个门,用来从多个时钟信号中选择时钟信号的复用器,以响应于所选择的时钟信号来触发所述多个门,从而在内部产生用于老化的热,以及监测内部温度的热传感电路。...
该专利属于英特尔公司所有,仅供学习研究参考,未经过英特尔公司授权不得商用。
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