下载延迟故障测试电路以及相关方法的技术资料

文档序号:2632615

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本发明提供一种延迟故障测试电路,该延迟故障测试电路用于响应于与将要测试的被设置为以不同速度运行的逻辑电路相关联的两个相应不同频率时钟信号来产生两时钟脉冲序列,并且被如此设置使得时钟脉冲中第二个的上升沿被对准,并且该电路进一步包括:计数装置,...
该专利属于NXP股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过NXP股份有限公司授权不得商用。

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