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器件特性测定系统技术方案
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文档序号:2632453
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在PRAM等器件的测定中,由于输入的脉冲信号变钝,因此无法精确地测定实际施加到器件上的电压或者流经器件的电流。为解决上述问题,在本发明中,设置与器件的端子接触的探针和脉冲发生器,并在同轴电缆的中间设置了测定电流用的分流电阻器,通过有源差动探...
该专利属于安捷伦科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过安捷伦科技有限公司授权不得商用。
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