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一种测试电路，用以测试一集成电路芯片中的数字逻辑电路，包括一储存装置、第一多任务器模块以及一选择装置。储存装置用以依据加载信号与一址选择信号，分别储存测试样本的第一Ｎ位群组、第二Ｎ位群组、第三Ｎ位群组以及第四Ｎ位群组。第一多任务器模块耦接至...
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