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对器件的探查制造技术
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下载对器件的探查的技术资料
文档序号:2632259
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将电子器件移到第一位置使该电子器件的端子靠近用于与端子电接触的电极。然后电子器件水平或对角线地移动,使端子与电极相接触。然后通过探针向该电子器件往返传送测试数据。...
该专利属于佛姆法克特股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过佛姆法克特股份有限公司授权不得商用。
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