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本发明提供一种测定装置，以同步于输出信号而产生第一触发信号与第二触发信号，每次在电子元件使输出信号以复数次输出时，使触发信号的相位加以顺次变化，且使输出信号的信号准位在触发信号的各相位加以复数次取得。对于第一触发信号的输出信号的信号准位为Ｈ...
该专利属于爱德万测试株式会社所有，仅供学习研究参考，未经过爱德万测试株式会社授权不得商用。

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