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本发明公开了一种获取肖特基二极管结参数的方法，它包括如下步骤：用等效电路来模拟肖特基势垒结；对肖特基势垒结的正向Ｉ－Ｖ曲线，用双指数函数解析式进行模拟，该双指数函数解析式中包含有反映肖特基势垒结特性和质量的结参数；通过对所述双指数函数解析式...
该专利属于信息产业部电子第五研究所所有，仅供学习研究参考，未经过信息产业部电子第五研究所授权不得商用。

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