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本发明提供一种检测集成电路ＡＳＩＣ的方法及装置，包括下列步骤：步骤Ａ：在激励数据包进入ＡＳＩＣ芯片以执行其相应的操作之前，根据激励数据包要执行的操作，将预先设置的相应的输出信息封装在该激励数据包的载荷内容中，然后将该激励数据包送入至ＡＳＩＣ...
该专利属于北京南山之桥信息技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京南山之桥信息技术有限公司授权不得商用。

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