温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明涉及一种尤其用于测量探针或测量头的接触装置，用于尤 其在半导体晶片上的高频测量，具有用于与平面结构电接触的接触端 (12)，其中在接触端(12)处设置具有至少两个由电介质(10)支 承的导体(14)的共面导体结构，在电介质(10)和接...
该专利属于罗森伯格高频技术有限及两合公司所有，仅供学习研究参考，未经过罗森伯格高频技术有限及两合公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。