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本发明是一种可同时多颗平行置入测试的ＩＣ检测机，其主要是由输入端ＩＣ输送机构将供料匣上的待测ＩＣ吸取移置到可同时承置多颗的待测ＩＣ的第一载送治具，再利用轨道传送机构将第一载送治具直接移送到测试埠内，以测试埠内的吸嘴将多颗的待测ＩＣ吸起，并下...
该专利属于鸿劲科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过鸿劲科技股份有限公司授权不得商用。

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