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本发明涉及实现高速测试电路的扫描链和方法。其中，包括多个扫描单元的边界扫描电路，每个扫描单元包含两个用于存储相应的测试值的扫描寄存器。在片上和片间测试期间，其中一个扫描寄存器响应于功能时钟信号，使得测试单元生成具有在该功能时钟信号的速度进行...
该专利属于国际商业机器公司所有，仅供学习研究参考，未经过国际商业机器公司授权不得商用。

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