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本发明涉及在半导体装置外部端子的电流电压测定时不需要开尔文探测器及电压测定装置的半导体装置及半导体测定装置。半导体装置２１０设有：用于连接负载的端子Ａ，用于向负载提供电流的电流驱动用晶体管Ｍ１，比较端子Ａ和基准电压Ｖｒｅｆ的比较器２１１，与...
该专利属于株式会社理光所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社理光授权不得商用。

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