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本发明涉及集成电路的测试技术领域，具体涉及一种集成电路高温动态老化多产品复用测试板。其结构包括多个用于插接老化子板的接口插座以及与老化测试系统连接的测试通道电路，其中，根据每个接口插座上的信号ｐｉｎ的数量，将所有的接口插座分成若干组，同一组...
该专利属于北京中星微电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过北京中星微电子有限公司授权不得商用。

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