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本发明是关于一种通过至少一个电子放电电极（２２）、至少一个电子收集电极（２２）、以及至少一个粒子射束（ＢＩ）的来源来测试或测量电气元件（１０、１１、１３）的方法，其中包含：通过该粒子射束弹射出该放电电极（２２）中的电子，并且将该放电电极所供...
该专利属于法商柏奈德公司所有，仅供学习研究参考，未经过法商柏奈德公司授权不得商用。

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