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文档序号:2630547
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一种能够检验电路工作速度的集成电路,该集成电路包括: 将被测试的内部电路; 控制电路,其位于所述内部电路与外部设备之间,用于通过使用读命令将读数据从所述外部设备输入到所述内部电路,并且用于通过使用写命令将从所述内部电路输出的写数...
该专利属于富士通株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过富士通株式会社授权不得商用。
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