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本发明涉及一种信号设备使用寿命状态预测方法，包括：获取目标信号设备影响因素指标数据和不同历史案例的历史影响因素指标数据；将历史影响因素指标数据和目标信号设备影响因素指标数据归一化；基于归一化历史影响因素指标数据和归一化目标信号设备影响因素指...
该专利属于同济大学所有，仅供学习研究参考，未经过同济大学授权不得商用。

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