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本发明涉及一种信号设备使用寿命致因分析方法，包括以下步骤：步骤S1：获取影响因素的历史状态数据；步骤S2：基于历史状态数据，连接不同时刻相同状态的状态值，得到不同状态的状态曲线；步骤S3：判断状态曲线是否存在交点，若是，执行步骤S4，若否，...
该专利属于同济大学所有，仅供学习研究参考，未经过同济大学授权不得商用。

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