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本发明涉及一种光电器件参数监测设备，属于光电子技术领域。为了改善现有光电器件实时监控结构要求参数采集设备数量与所测光电器件数量上相等，在大批量光电器件测试、筛选、老化的整个过程中成本高、效率低的不利现状，本发明采用的技术方案是：将多个待测光...
该专利属于北京工业大学所有，仅供学习研究参考，未经过北京工业大学授权不得商用。

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