一种光电器件参数监测设备制造技术

技术编号:2630453 阅读:142 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种光电器件参数监测设备,属于光电子技术领域。为了改善现有光电器件实时监控结构要求参数采集设备数量与所测光电器件数量上相等,在大批量光电器件测试、筛选、老化的整个过程中成本高、效率低的不利现状,本发明专利技术采用的技术方案是:将多个待测光电器件置于器件架上,运动控制系统根据实际测试需要通过控制运动设备驱动数据采集设备在导轨上运动以采集器件架上所需器件的输出参数,进而记录到数据记录系统中。本发明专利技术与传统结构及制造方法相比具其优点在于利用一个数据采集设备就能够完成对多个光电器件的输出参数进行采集和自动记录,适用于大批量光电器件的测试、筛选、老化过程,提高了效率,节约了成本。

【技术实现步骤摘要】

【技术保护点】
一种光电器件参数监测设备,主要包括有运动采集系统和控制记录系统(2),运动采集系统包括有数据采集设备(7),控制记录系统(2)包括有数据记录系统(10);其特征在于:运动采集系统还包括有壳体(5)、器件架(4)、导轨(3)、运动设备(6),控制记录系统(2)还包括有运动控制系统(11);其中,器件架(4)、导轨(3)、数据采集设备(7)和运动设备(6)均设置于壳体(5)内,器件架(4)和导轨(3)平行布置,多个待测光电器件(12)并列放置在器件架(4)上;数据采集设备(7)通过运动设备(6)可以沿着导轨(3)运动,运动设备(6)在控制记录系统(2)中的运动控制系统(11)的控制下可以运动到每个...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:尧舜
申请(专利权)人:北京工业大学
类型:发明
国别省市:11[中国|北京]

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