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集成电路器件中的开关延迟历史效应的在线测量技术。将脉冲发下延迟链。该脉冲与环形振荡器的信号基本上同步。对于对应于延迟链的远端的环形振荡器上的确定点，延迟链和环形振荡器包括基本上相同的门。当脉冲到达延迟链的远端时，测量环形振荡器中的信号沿经过...
该专利属于国际商业机器公司所有，仅供学习研究参考，未经过国际商业机器公司授权不得商用。

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