【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种集成电路器件中的开关延迟历史效应的在线测量方法，包括步骤：将脉冲沿着延迟链发射，其中该脉冲与环形振荡器的信号基本上同步，并且对于对应于延迟链的远端的环形振荡器上的确定点，延迟链和环形振荡器包括基本上相同的门；当脉冲到达延迟链的远端时，测量环形振荡器中的信号沿经过的门的数目与延迟链中的相应脉冲沿经过的门的数目之间的至少一个差异；以及根据信号沿和相应的脉冲沿所经过的门的数目的该至少一个测量差异，而确定集成电路器件中的一个或多个开关历史。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：马克B科特臣，曼朱尔布善，
申请(专利权)人：国际商业机器公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]
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