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多时钟域的数字测试电路、数字集成电路测试系统技术方案
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文档序号:26303564
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本申请涉及多时钟域的数字测试电路和数字集成电路测试系统,多时钟域的数字测试电路包括:第一高精度时钟发生器、背板时钟总线接口、第一时钟选择单元、时钟输出通道;第一高精度时钟发生器的输出端和背板时钟总线接口的输出端分别和第一时钟选择单元的两个输...
该专利属于杭州长川科技股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过杭州长川科技股份有限公司授权不得商用。
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