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本发明公开了一种用于测试SoC功能的测试电路、测试方法和SoC，当测试模式控制寄存器配置SoC为测试模式时，管脚复用选择模块切换并行PROM复用管脚选择片外测试用并行PROM接口，此时：片内测试加载程序控制器用于通过片外测试用并行PROM接...
该专利属于西安微电子技术研究所所有，仅供学习研究参考，未经过西安微电子技术研究所授权不得商用。

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