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本发明是关于一种连接单元、被测量组件搭载板、探针卡以及组件接口部。该连接单元，适用于电性连接一被测量组件搭载板及一试验装置，其中被测量组件搭载板是载置一ＩＣ插座，且试验装置测试被保持于ＩＣ插座上的电子组件。连接单元包括：一保持基板，面向被测...
该专利属于株式会社爱德万测试所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社爱德万测试授权不得商用。

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