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本发明涉及芯片测试方法，公开了一种多样化的ＢＩＳＴ测试方法，包括步骤：通过逻辑接口单元对ＮＶＭ进行测试；将测试图形转换成代码格式的指令集后，存放于ＮＶＭ区；经外部指令激活的ＣＰＵ读取ＮＶＭ区内指令集，并依据该指令集的内容对芯片内的电路单元进...
该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。

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