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本发明涉及一种利用探针测试仪以测试具有导体路径的大型非组件化电路板的方法。根据按照本发明所述方法，将具有开放电路导体路径的电路板分成数个区段以进行测试，所述导体路径延伸超过某一区段，所述某一区段由在相关区段内的各终点的电容测试法（ｃａｐａｃ...
该专利属于ATG测试系统股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过ATG测试系统股份有限公司授权不得商用。

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