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本发明提供一种测试座以供测试集成电路使用，特别是球栅数组（ＢＧＡ，Ｂａｌｌ　　Ｇｒｉｄ　　Ａｒｒａｙ）封装件中的集成电路。该测试座包括基座构件（ｂａｓｅ　　ｍｅｍｂｅｒ），及配置成在相对于该基座构件的较高位置与较低位置之间垂直地移动的外盖构...
该专利属于斯班逊有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过斯班逊有限公司授权不得商用。

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