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一种电磁无损检测探头制造技术
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文档序号:2629482
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本发明公开了一种电磁无损检测探头,包括:偏置单元,该偏置单元包括巨磁元件磁场偏置线圈与偏置磁场线圈铁芯,且通过偏置磁场铁芯对偏置线圈的励磁磁场进行强化;存储单元,包括Flash存储芯片,且该芯片的内部存储有各个巨磁元件的输出参数及磁场偏置线...
该专利属于华南理工大学所有,仅供学习研究参考,未经过华南理工大学授权不得商用。
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