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定时发生器及半导体试验装置制造方法及图纸
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文档序号:2629457
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本发明提供一种定时发生器及半导体试验装置,在对多个定时发生部(10-1~10-n)分配时钟的时钟分配电路(20)中,具备连接有主路径用缓冲器(24)的时钟主路径(21)、和连接有回送路用缓冲器(27)的时钟回送路(26),将这些主路径用缓冲...
该专利属于株式会社爱德万测试所有,仅供学习研究参考,未经过株式会社爱德万测试授权不得商用。
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