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一种可进行复合测试的测试设备，包括一压货头装置、一测试基座与若干个测试探针。该压货头装置包括至少一个复合压货头，该压货头装置上位于复合压货头外的区域可嵌入一个具有测试功能的ＩＣ。该复合压货头具有若干个复合测试探针，或该复合压货头也可仅嵌入至...
该专利属于日月光半导体制造股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过日月光半导体制造股份有限公司授权不得商用。

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