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本发明一种电路检测的方法包含了以下步骤：提供一具有一导线（ｃｏｎｄｕｃｔｉｖｅ　　ｌｉｎｅ）的基底；并形成一金属层于上述至少一导线上，进而加强导线以及邻接区域的对比，以利电路的检测，上述方法还包含了移除金属层，此金属层是通过硝酸、过氧化氢以...
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