下载探针装置及检查装置的技术资料

文档序号:2628781

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本发明提供一种探针装置及检查装置,使薄膜探针的各触头与被检查体的电极确实地接触。该探针装置包括:固定于主体框架侧的探针基座,支承薄膜探针并使其与被检查体的电极进行电接触的探针块,在上述薄膜探针的各触头与被检查体的电极接触的状态下、以均匀的压...
该专利属于日本麦可罗尼克斯股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过日本麦可罗尼克斯股份有限公司授权不得商用。

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