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公开了一种用于在集成电路的测试模式中对集成电路（１００）中的故障进行定位的方法（２００），该集成电路具有与压缩逻辑（１４０）耦接的多个数字输出端，其中压缩逻辑包括至少一个用于提供测试响应的输出端。该方法包括以下步骤：提供集成电路的仿真模型（...
该专利属于ＮＸＰ股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过ＮＸＰ股份有限公司授权不得商用。

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