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本发明涉及一种用来测试测试样品（５０８）的电属性的探针（５０２）。该探针可以包括主体（５０４），主体具有包括近端和与近端相对的远端的探针臂（５０６），该探针臂在探针臂近端，从主体延伸出来，由近端和远端限定出第一轴。进一步地，该探针臂可以具有...
该专利属于卡普雷斯股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过卡普雷斯股份有限公司授权不得商用。

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