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一种测试电路，具有限定在并行输入（ｗｐｉ［０］…ｗｐｉ［Ｎ－１］）与各自的并行输出（ｗｐｏ［０］…ｗｐｏ［Ｎ－１］）之间的多个扫描链段（６２、６４、６０）。扫描链段包括移位寄存器电路的单元组（６０）、核心扫描链部分（６２）、绕过核心扫描链部...
该专利属于NXP股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过NXP股份有限公司授权不得商用。

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