温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种刺穿式探针及应用该探针进行封装体测试的方法。本发明所述的刺穿式探针，包含为中空柱状体的探针套筒、由该探针套筒内部凸设而出的多个探针端子以及电性连接至这些探针端子的导线。所述应用该探针进行封装体测试的方法，主要是借着足够尖锐且...
该专利属于创宇科技工业股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过创宇科技工业股份有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。