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测试装置以及测试电路卡制造方法及图纸
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文档序号:2628401
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提供一种测试装置,其配置有:激励器,其向被测试器件输出测试信号;第一FET开关,其切换激励器和被测试器件是否连接;比较器,其经第一FET开关接收被测试器件的输出信号,比较输出信号的电压和预先规定的参照电压;参照电压输入部,其把参照电压输入比...
该专利属于爱德万测试株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过爱德万测试株式会社授权不得商用。
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