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本发明的电子部件试验装置将被试验ＩＣ的输入输出端子推压到测试头的插座（５０）进行测试；其中：具有至少包括推压基座（３４）、引导推压基座（３４）、推压块（３１）、支承座３２、及２个弹簧（３６、３８）的推压组件（３０）；该推压基座（３４）可相对...
该专利属于株式会社爱德万测试所有，仅供学习研究参考，未经过株式会社爱德万测试授权不得商用。

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