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本发明涉及一种电路板测试方法，测量电路板中各导电路径的标准电阻值；确定多个待测量导电路径；测量多个该种电路板中每个待测量导电路径的电阻值，并记录阻值变化幅度超出预定范围的导电路径；进行切片分析以确认导电路径中是否存在不良；分析不良导电路径的...该专利属于富葵精密组件（深圳）有限公司;鸿胜科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过富葵精密组件（深圳）有限公司;鸿胜科技股份有限公司授权不得商用。