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提供一种测试包括多个核心的集成电路的方法，至少两个核心具有不同频率的、不同的相关联的第一和第二时钟信号。采用定时在测试频率（ＴＣＫ）下的定时扫描链提供测试信号。在时钟电路复位信号（ｃｌｏｃｋｄｉｖ＿ｒｓｔ）中提供转变，触发时钟分频电路（４４...
该专利属于NXP股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过NXP股份有限公司授权不得商用。

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