专利查询
首页
专利评估
登录
注册
当前位置:
首页
>
专利查询
>
武汉盛为芯科技有限公司
>
一种芯片自动检查外观装置制造方法及图纸
>技术资料下载
下载一种芯片自动检查外观装置的技术资料
文档序号:26271702
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。
本实用新型公开了一种芯片自动检查外观装置,包括支撑框架、第一检测镜头和第二检测镜头,所述支撑框架下方成型有过槽,所述支撑框架为U型结构,所述过槽内上方一侧通过螺钉连接有第一电动推杆,所述第一电动推杆下方通过螺钉连接有所述第一检测镜头,所述第...
该专利属于武汉盛为芯科技有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过武汉盛为芯科技有限公司授权不得商用。
详细技术文档下载地址
温馨提示:您尚未登录,请点
登陆
后下载,如果您还没有账户请点
注册
,登陆完成后,请刷新本页查看技术详细信息。