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本发明公开了一种QFN芯片高温测试自动出入料机构，包括底座以及设置在底座上的入口加热轨道、入口材料转移机构、定位机构、芯片搬运机构、高温测试机构、不良品排出机构和出料轨道，芯片搬运机构包括单轴驱动器、单轴驱动器马达、纵向滑轨、下压马达固定板...
该专利属于上海赢朔电子科技股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海赢朔电子科技股份有限公司授权不得商用。

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