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本发明公开了一种多芯片集成封装方法，包括：将第一芯片的正面键合到第一载片上；进行第一塑封，将第一芯片包裹在第一塑封材料中，从而将所述第一芯片重构为晶圆；对重构晶圆的第一塑封材料进行减薄，露出第一芯片背面的导电通孔，减薄后的第一芯片背面所在的...该专利属于上海先方半导体有限公司;华进半导体封装先导技术研发中心有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海先方半导体有限公司;华进半导体封装先导技术研发中心有限公司授权不得商用。