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本发明公开了一种水平开合的半导体检测用探针座，一对竖直支撑板相互靠近的端面之间成型有一对左右对称设置的连接组；连接组包括一对上下对称设置的连接板；一对竖直支撑板的中心之间设置有测试座；测试座位于一对连接组之间并且位于上侧和下侧的连接板之间；...
该专利属于张勇所有，仅供学习研究参考，未经过张勇授权不得商用。

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