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本发明提供了一种基于磁光效应的介质折射率传感器，磁性材料层置于基底上，金属微纳结构阵列置于磁性材料层上，金属微纳结构阵列为一维周期性排列的金属微纳结构，金属微纳结构为条形，金属微纳结构的截面为圆弧，圆弧与磁性材料层的表面相切。应用时，待测介...
该专利属于中山科立特光电科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中山科立特光电科技有限公司授权不得商用。

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