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本发明涉及一种具有高测试精密度的光学尺，包括：一个主尺，其分布有多个第一光栅；一个设置于所述第一光栅侧边的光源；一个透镜组，所述透镜组包括一个用于将光源发出的光线准直成平行光的单轴柱型透镜以及一个柱形透镜阵列，所述柱型透镜阵列具有多个用于将...该专利属于鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过鸿富锦精密工业（深圳）有限公司;鸿海精密工业股份有限公司授权不得商用。