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本发明为微电子器件恒定加速度的测验方法。通过该方法测定电子器件恒定加速度时对电子器件用力均匀，器件受伤的机率小。其特征在于：在直贴式夹具的底部铺一些细砂，然后在砂的上面铺橡胶薄膜，待检测的器件帖于薄膜并与薄膜固定，再将夹具安装于离心机进行试...
该专利属于中国电子科技集团公司第五十八研究所所有，仅供学习研究参考，未经过中国电子科技集团公司第五十八研究所授权不得商用。

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