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本发明提供了一种耳机、电子设备及耳机入耳检测方法，所述耳机包括参考磁场；磁感应装置，所述磁感应装置用于检测所述参考磁场；感应构件，所述感应构件适于根据受到的预定物理信号驱动而发生状态变化，当所述感应构件的状态发生变化时，适于使所述参考磁场也...
该专利属于深迪半导体(上海)有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深迪半导体(上海)有限公司授权不得商用。

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