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本发明属于纳米CT投影图像校正技术领域，具体涉及一种基于采集序列细分的纳米CT投影位置漂移校正方法及装置，该方法包括采用圆轨迹方式在N个角度，每个采集角度下采集M张投影；计算采集角度为θ...
该专利属于中国人民解放军战略支援部队信息工程大学所有，仅供学习研究参考，未经过中国人民解放军战略支援部队信息工程大学授权不得商用。

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